Microscope Super TEM MPQ

Les récents développement sur les correcteurs d'abérration et les sources d'électrons hautement cohérentes ont accéléré l'impact de la microscopie par électron dans la caractérisation de la matière à l'échelle atomique.

En effet, la dernière génération d'instruments est capable d'atteindre une échelle de résolution de l'ordre du picomètre avec une dizaine d'électron Volt en résolution d'énergie.

En synergie, l'imagerie à haute résolution et la microscopie analytique ont énormément bénéficié des avancées technologiques des microscopes électroniques. Cela a conduit à une analyse structurelle et chimique améliorée des nanomatériaux.
 

Le Super TEM a été installé pour la première fois en septembre 2011 à l'Université Paris Diderot.

En 2014, les détenteurs d'échantillons in situ ont été mis en œuvre sur le super TEM, offrant des perspectives sans précédent pour l'étude des nanomatériaux dans des environnements liquides et gazeux à l'échelle atomique.

Pour en savoir plus, nous décrivons sur notre site Web les performances et les principaux résultats du Super TEM: un microscope JEOL ARM 80 - 200 kV, utilisant un FEG froid et un objectif corrigé par aberration.
 

Site Web : https://www.mpq.univ-paris-diderot.fr/The-SUPER-TEM